干貨 | 通用測(cè)試全新自主研發(fā)的EMI測(cè)試系統(tǒng)具有哪些亮點(diǎn)？?
近期，深圳市通用測(cè)試系統(tǒng)有限公司（以下簡(jiǎn)稱：通用測(cè)試）成功交付了一套全新自主研發(fā)的電磁干擾源定位、診斷和分析的EMI測(cè)試系統(tǒng)。在產(chǎn)品研發(fā)過程中，通用測(cè)試充分考量到客戶未來(lái)的設(shè)備集成化、電磁環(huán)境的復(fù)雜性以及業(yè)務(wù)擴(kuò)展等現(xiàn)實(shí)問題，最終在硬件系統(tǒng)和測(cè)試方法上實(shí)現(xiàn)了平面近遠(yuǎn)場(chǎng)變換。
通用測(cè)試EMI測(cè)試系統(tǒng)在硬件和軟件上有諸多創(chuàng)新，突出亮點(diǎn)有:
- 利用可編程的人機(jī)協(xié)作機(jī)械臂，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化掃描過程；
- 工作頻率覆蓋30MHz-8GHz（可擴(kuò)展至18GHz）；
- 支持頻譜儀（SA）和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）等儀器的控制和數(shù)據(jù)讀取；
- 支持近場(chǎng)掃描、遠(yuǎn)場(chǎng)掃描以及遠(yuǎn)場(chǎng)到近場(chǎng)的場(chǎng)波變換。
通過EMI系統(tǒng)提供的測(cè)試平臺(tái)和操作軟件，可實(shí)現(xiàn)指定頻率電磁干擾噪聲源自動(dòng)掃描和定位，給用戶提供更多噪聲源信息，以便進(jìn)行相應(yīng)的電磁干擾診斷和抑制。
EMI系統(tǒng)支持兩種噪聲源定位方法：近場(chǎng)掃描和遠(yuǎn)場(chǎng)ESM掃描，其原理如圖所示。
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近場(chǎng)掃描示意圖
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遠(yuǎn)場(chǎng)掃描示意圖
近場(chǎng)掃描通過安裝在機(jī)械臂的探頭進(jìn)行掃描，使用頻譜儀（SA）或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）可獲得掃描平面上被測(cè)件輻射場(chǎng)的幅度信息。遠(yuǎn)場(chǎng)ESM掃描額外增加一個(gè)參考探頭，使用VNA來(lái)獲取掃描平面上場(chǎng)的幅值和相位。遠(yuǎn)場(chǎng)ESM掃描可將掃描平面上的輻射場(chǎng)變換到近場(chǎng)高度，從而對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)輻射源進(jìn)行有效定位。
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遠(yuǎn)場(chǎng)Hy掃描面幅度與相位
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遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)近場(chǎng)Hy掃描面幅度與相位
通用測(cè)試EMI系統(tǒng)設(shè)計(jì)緊湊，尺寸小巧，易于移動(dòng)，可以放置在辦公室、實(shí)驗(yàn)室或者其他小空間場(chǎng)所，極大方便了硬件工程師的調(diào)試和驗(yàn)證工作。通用測(cè)試EMI測(cè)試軟件簡(jiǎn)單易用，穩(wěn)定流暢，展示、分析功能全面，進(jìn)一步提升系統(tǒng)測(cè)試效率。