EMID100B：通用測試自主研發的電磁干擾檢測系統
EMID100B是通用測試針對復雜電子設備和系統電磁干擾問題，全新自主研發的一套電磁干擾源定位、診斷和分析的專業解決方案。搭配掃描噪聲源定位方法，結合平面近遠場變換，對干擾源進行快速精準定位。
01 系統功能強
- 采用可編程人機協作機械臂，實現自動化掃描，掃描面最大可達60cm×60cm。
- 支持30MHz-8GHz（可擴展至18GHz）工作頻段。
- 支持對被測件輻射電磁功率強度計算、電磁輻射噪聲源定位、遠場電磁輻射噪聲計算等多種測試功能。
- 軟件集成系統校準功能，支持斷點續測及異常恢復，有效提升測量的可靠性和流暢性。
02 測試速度快
- 近場掃描技術在被測件結構細節未知情況下，基于電磁感應，實現對被測件近場快速測量，對于超大陣列和多波位狀態測量，效果尤為明顯。
- 通過天線近場測量，利用平面波譜傳播，可對天線遠場進行計算，提高天線性能測試效率，節約測試成本。
- 利用近場掃描結果，通過重構場源信息，快速計算出被測件方向圖，測試速度可提升 2–10 倍。
- 通過優化采樣和創新測試方法，對采用相控陣天線技術的芯片、終端以及基站系統，可實現較小空間內快速測量。
03 測試種類齊全
- 支持近場掃描測試，通過頻譜儀（SA）或矢量網絡分析儀（VNA）獲得近場掃描平面上的被測件幅度信息。
- 支持遠場掃描測試，通過矢量網絡分析儀（VNA）獲得遠場掃描平面上被測件幅度相位信息。
- 支持遠場到近場的變換掃描測試，在距離被測件平面較遠的掃描面上獲取被測場的幅值和相位，能可靠地定位只對遠場輻射有貢獻的輻射源。
04 系統結構清晰
- 軟件校準方法準確、操作簡單，工程師可通過簡單配置快速開始測試。
- 軟件具有良好的系統擴展性能，可快速響應新的行業需求。
- 可根據客戶需求導入標準化測試結果，與客戶專有業務系統集成。
- 硬件設備主要包括機械臂、磁場探頭、低噪聲放大器、相機、測試夾具等，在測試過程中緊密結合，確保測試順利開展。
05 結構設計精巧
- 尺寸靈活，結構緊密，可根據用戶差異化需求進行不同尺寸的定制。
- 易于移動，可放置在普通實驗臺、辦公室或其他小型空間場所，極大方便了工程師的調試和驗證工作。
- 輕便牢固，良好的機械性能，精心的結構設計，便于安裝。
06 數據展示豐富
- 支持不同掃描方向、頻率數據顯示，提供數據查看、分析、診斷、追溯功能。
- 支持導出測試數據進行進一步診斷分析。
- 支持熱力圖對干擾源的展示和定位，通過可視化圖表，清晰直觀地呈現數據。
EMI系統可實現工程師指定頻率下的電磁干擾噪聲源自動掃描和迅速定位，并盡可能多的提供噪聲源信息，以便進行相應的電磁干擾診斷和抑制，廣泛適用于高校實驗室以及工廠，是終端設備研發的可靠選擇。