EMID100B：通用測試自主研發(fā)的電磁干擾檢測系統(tǒng)
EMID100B是通用測試針對復(fù)雜電子設(shè)備和系統(tǒng)電磁干擾問題，全新自主研發(fā)的一套電磁干擾源定位、診斷和分析的專業(yè)解決方案。搭配掃描噪聲源定位方法，結(jié)合平面近遠(yuǎn)場變換，對干擾源進行快速精準(zhǔn)定位。
01 系統(tǒng)功能強
- 采用可編程人機協(xié)作機械臂，實現(xiàn)自動化掃描，掃描面最大可達60cm×60cm。
- 支持30MHz-8GHz（可擴展至18GHz）工作頻段。
- 支持對被測件輻射電磁功率強度計算、電磁輻射噪聲源定位、遠(yuǎn)場電磁輻射噪聲計算等多種測試功能。
- 軟件集成系統(tǒng)校準(zhǔn)功能，支持?jǐn)帱c續(xù)測及異常恢復(fù)，有效提升測量的可靠性和流暢性。
02 測試速度快
- 近場掃描技術(shù)在被測件結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)未知情況下，基于電磁感應(yīng)，實現(xiàn)對被測件近場快速測量，對于超大陣列和多波位狀態(tài)測量，效果尤為明顯。
- 通過天線近場測量，利用平面波譜傳播，可對天線遠(yuǎn)場進行計算，提高天線性能測試效率，節(jié)約測試成本。
- 利用近場掃描結(jié)果，通過重構(gòu)場源信息，快速計算出被測件方向圖，測試速度可提升 2–10 倍。
- 通過優(yōu)化采樣和創(chuàng)新測試方法，對采用相控陣天線技術(shù)的芯片、終端以及基站系統(tǒng)，可實現(xiàn)較小空間內(nèi)快速測量。
03 測試種類齊全
- 支持近場掃描測試，通過頻譜儀（SA）或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）獲得近場掃描平面上的被測件幅度信息。
- 支持遠(yuǎn)場掃描測試，通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）獲得遠(yuǎn)場掃描平面上被測件幅度相位信息。
- 支持遠(yuǎn)場到近場的變換掃描測試，在距離被測件平面較遠(yuǎn)的掃描面上獲取被測場的幅值和相位，能可靠地定位只對遠(yuǎn)場輻射有貢獻的輻射源。
04 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)清晰
- 軟件校準(zhǔn)方法準(zhǔn)確、操作簡單，工程師可通過簡單配置快速開始測試。
- 軟件具有良好的系統(tǒng)擴展性能，可快速響應(yīng)新的行業(yè)需求。
- 可根據(jù)客戶需求導(dǎo)入標(biāo)準(zhǔn)化測試結(jié)果，與客戶專有業(yè)務(wù)系統(tǒng)集成。
- 硬件設(shè)備主要包括機械臂、磁場探頭、低噪聲放大器、相機、測試夾具等，在測試過程中緊密結(jié)合，確保測試順利開展。
05 結(jié)構(gòu)設(shè)計精巧
- 尺寸靈活，結(jié)構(gòu)緊密，可根據(jù)用戶差異化需求進行不同尺寸的定制。
- 易于移動，可放置在普通實驗臺、辦公室或其他小型空間場所，極大方便了工程師的調(diào)試和驗證工作。
- 輕便牢固，良好的機械性能，精心的結(jié)構(gòu)設(shè)計，便于安裝。
06 數(shù)據(jù)展示豐富
- 支持不同掃描方向、頻率數(shù)據(jù)顯示，提供數(shù)據(jù)查看、分析、診斷、追溯功能。
- 支持導(dǎo)出測試數(shù)據(jù)進行進一步診斷分析。
- 支持熱力圖對干擾源的展示和定位，通過可視化圖表，清晰直觀地呈現(xiàn)數(shù)據(jù)。
EMI系統(tǒng)可實現(xiàn)工程師指定頻率下的電磁干擾噪聲源自動掃描和迅速定位，并盡可能多的提供噪聲源信息，以便進行相應(yīng)的電磁干擾診斷和抑制，廣泛適用于高校實驗室以及工廠，是終端設(shè)備研發(fā)的可靠選擇。