第四期丨通用測試相控陣天線測試系統有何特別之處？
相控陣天線測試系統主要是用來對天線、衛星、雷達、雷達罩等設備的性能進行測試與評估。不管測試系統是遠場、緊縮場、近場還是現在 OTA 測試中的小暗箱系統，所有系統中都存在轉臺、掃描架、被測件、饋源與自動測試軟件幾大部分。
為了提高測試效率，測試工程師希望能夠在不降低測試精度的情況下，優化提高系統測試速度，以便對復雜天線輻射性能進行高效測試。隨著技術的進步出現了新的測試技術與測試設備，合理利用這些技術與設備可以大大提高測試系統的測試效率、降低測試成本、縮短測試時間，從而提高產品競爭力，縮短產品上市時間。
01 另辟新徑的系統架構
相較于傳統測試系統，通用測試的相控陣天線測試系統采用多項核心技術：
- 高性能饋源具有相位穩定，具有低交叉極化和低散射等特點。
- EPP 吸波材料具有不吸水，不吸潮，長期使用性能穩定，對系統背景噪聲電平影響小等特點。
- 被測件裝夾子系統采用桁吊和特殊設計的夾具，單人操作也能完成被測件的裝卸，被測件產品安裝時間短，可靠性高。
- 微秒級實時控制系統實現雷達天線波控，測試儀器和開關矩陣同步觸發控制，可以極大提高測試效率，實現多波位、多頻點和多通道同步高速采樣流程。
- 球面近場掃描技術在被測件結構細節未知情況下，基于電磁感應，實現對被測件近場快速測量，對于超大陣列和多波位狀態測量，效果尤為明顯。
02 一站式多波位快速測試
相控陣天線測試系統的毫米波頻段大部分為50cm以下的中小型相控陣，由于有源相控陣通常有多個測試通道和波束指向狀態。采用普通的測量系統，需要對每一個天線狀態分別進行測試，測試效率低。在面向中小型相控陣天線時，通過通道切換和被測件波位控制，可以在一次掃描測試中，完成多個測試通道及多個波位狀態的測試，提高測試效率數倍。
測試系統覆蓋相控陣天線的大部分測試場景，實現一站式測試。除了基本的近遠場方向圖測試，還具有相位中心測試功能，集成的后處理算法可利用方向圖結果進行計算，無需進行額外的相位中心測試。
03 自主研發 安全可靠
通用測試自成立以來一直秉承“專注無線測試 面向萬物互聯“發展理念，在無線性能測試的道路上從未止步。相控陣天線測試系統集成通用測試多項自主專利技術，取代了傳統掃描架設備，實現天線近場、遠場、近遠場測量，突破了平臺自動化校準、高精度定位實時交互、可容錯數據分析、多任務采集測量以及快速數據精確處理算法等技術。實際應用表明，該系統運行穩定，可靠性高，能夠滿足實際工程需求，且響應速度快，大大提高了測試效率。